众人回到控制室，罗阳坐到其中一台电脑前，说道： “测你们这种薄膜样品，X射线要以近乎水平的角度射到硅片的边缘。 需要保证每次测试时，刚好有一半的X射线被硅片挡住，另一半X射线则照射到样品表面，与样品发生作用，产生衍射信号，最终被信号收集器收集。 为了防止信号收集器**射线直接照射，要在它的前面放置一枚铅制硬币，用来吸收绝大部分的X光。