置在对应的测试设备中，通过中间计算机启动了操控程序。

计算一块芯片的基础性能，无论是硅基芯片也好，还是碳基芯片也好，其最基础的就是浮点运算速度了。

至于浮点运算速度的测试方法，他依旧使用的是测试硅基芯片的那两种。

第一种是常见的度量算法。

第二种则是π数值计算。

这两种方法，从一开始的磁芯板计算机到后面的集成芯片计算机都在使用。

哪怕是前